「電気電子工学実験/3/半導体デバイスの実験」の編集履歴（バックアップ）一覧はこちら
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*役に立つ参考文献
***シリコンにおけるキャリア移動度の標準値
松葉博則, "電気電子材料", 東京電機大学出版局 : p.60
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